電子部品 : SNJ54BCT8374AFK

メーカー : Texas Instruments

包装 :

ピン :

説明 : SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS

温度 : ミン °C | マックス °C

Datasheet : SNJ54BCT8374AFK PDF

• SNJ54BCT8373AFK
• SNJ54BCT8373AJT
• SNJ54BCT8374AFK
• SNJ54BCT8374AJT