電子部品 : SN74BCT8374ANTE4

メーカー : Texas Instruments

包装 :

ピン :

説明 : SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS

温度 : ミン °C | マックス °C

Datasheet : SN74BCT8374ANTE4 PDF

• SN74BCT8374A
• SN74BCT8374ADW
• SN74BCT8374ADWE4
• SN74BCT8374ADWG4
• SN74BCT8374ADWR
• SN74BCT8374ADWRE4
• SN74BCT8374ADWRG4
• SN74BCT8374ANT
• SN74BCT8374ANTE4